北京恒奧德儀器儀表有限公司
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自動(dòng)凝點(diǎn)測定儀型號： DRS-NQ-3Z自動(dòng)凝點(diǎn)測定儀型號： DRS-NQ-3Z 點(diǎn) ★該儀器采用分體式結構，*消除震動(dòng)，對絮狀物的破壞及對測試數據的影響 ★該儀器配備上置式光電液面監測器，可檢測到試樣傾斜時(shí)水平液面的微弱變化，凝點(diǎn)/傾點(diǎn)判斷
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光拍法光速測量?jì)x型號：LB-LM2000C光拍法光速測量?jì)x型號：LB-LM2000C 物理內容豐富： （1）采用頻聲光器件，利用聲光頻移效應產(chǎn)生150MHz的拍頻波，用示波器測量近程光與遠程的相位差求得拍頻波的波長(cháng)，而測得光的傳播速度，即“光拍法”。
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波爾共振實(shí)驗儀型號：LK-LB-BOR波爾共振實(shí)驗儀型號：LK-LB-BOR 波爾共振實(shí)驗儀有以下優(yōu)點(diǎn)： 1.采用制，系統性能好，周期穩定。 2.采用雙度盤(pán)結構，讀取數據直觀(guān)、簡(jiǎn)單，物理現象清晰。 3.測量相位差采用內閃光系統，無(wú)互相干擾，眼睛觀(guān)測不易疲勞。 4.調節方便，共振效果明顯，測量準確度。
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相位法光速測量?jì)x型號：LK-LM2000A相位法光速測量?jì)x型號：LK-LM2000A 對激光光束直接行100MHz的頻調制，移動(dòng)反光鏡通過(guò)測量近程光與遠程光的相位差求得調制光的波長(cháng)，依據C=f?λ計算出光的傳播速度，即“相位法”。儀器長(cháng)0.8m，采用半導體器件，性能穩定可靠。
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磁電阻效應實(shí)驗儀型號：LK-HT-228磁電阻效應實(shí)驗儀型號：LK-HT-228 磁電阻效應是近年來(lái)的熱門(mén)課題，并已有廣泛的應用。本實(shí)驗儀主要供學(xué)生在實(shí)驗室測量巨磁電阻材料的磁電阻之用?；九渲冒姶盆F、大電恒源、數字恒源、數字微伏表、數字斯拉計、樣品、四探針夾具等。
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雙光柵綜合實(shí)驗儀型號：LK-VM05雙光柵綜合實(shí)驗儀型號：LK-VM05 選配其它實(shí)驗組件還可成其它實(shí)驗（是LM04綜合光學(xué)綜合實(shí)驗儀的立組件） 主要實(shí)驗內容： 1、研究阻尼振動(dòng)與受迫振動(dòng),分析速度共振與位移共振。 2、測量音叉的諧振曲線(xiàn)（電測量法）與振動(dòng)頻率（李沙育圖形法）。
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變溫霍爾效應實(shí)驗儀型號：LK-HT-648變溫霍爾效應實(shí)驗儀型號：LK-HT-648 霍爾效應的測量是開(kāi)展半導體研究的重要方法。本機利用計算機的數據采集和處理在80K-400K溫度范圍內對霍爾系數和電導率的聯(lián)合測量，行半導體導電機制及散射機制的研究，并可確定半導體的些基本參數，如導電類(lèi)型、載子濃度、遷移率、禁帶寬度以及雜質(zhì)電離能等。
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納米微粒制備實(shí)驗儀型號：LK-HT218納米微粒制備實(shí)驗儀型號：LK-HT218 參照電阻加熱蒸發(fā)法制備微顆粒的原理，行相關(guān)的金屬、氧化物、分子材料及其他材料的微顆粒制備實(shí)驗或演示
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固體數字熔點(diǎn)儀型號：LK-LB-SMP固體數字熔點(diǎn)儀型號：LK-LB-SMP 用于觀(guān)察和測量固體材料的熔化性，而分析判斷單質(zhì)材料的類(lèi)型和分析判斷二組分體系熔解性并獲取該組分體系的相圖。真空爐透明，目視熔化過(guò)程，無(wú)煙霧等有害氣體產(chǎn)生。恒源、毫伏表均采用數字顯示。
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鐵電體電滯回線(xiàn)測量?jì)x型號：LK-TF-DH1鐵電體電滯回線(xiàn)測量?jì)x型號：LK-TF-DH1 電滯回線(xiàn)測量是檢測鐵電體的種主要手段?！癟F_DH1鐵電體電滯回線(xiàn)測量?jì)x”針對教學(xué)需求而的，并且也可以應用到科研域。 主要點(diǎn)：內含微處理器、程控放大器；設有安保護裝置；速數據接口；制樣品盒和樣品臺；軟件能豐富
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